光電子器件是光電子技術(shù)的關(guān)鍵和核心部件,，是現(xiàn)代光電技術(shù)與微電子技術(shù)的前沿研究領(lǐng)域,，是信息技術(shù)的重要組成部分。

光電子器件檢測周期：7-10個工作日(參考周期,、可加急)

光電子器件檢測標(biāo)準(zhǔn)（部分）

1,、 GJB 8119-2013 半導(dǎo)體光電子器件通用規(guī)范

2、 SJ 2247-1982 半導(dǎo)體光電子器件外形尺寸

3,、 GB 12565-1990 半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范

4,、 GJB 33/20-2011 半導(dǎo)體光電子器件 GH302型光電耦合器詳細(xì)規(guī)范

5、 SJ 50033/112-1996 半導(dǎo)體光電子器件.GD3251Y型光電二極管詳細(xì)規(guī)范

6,、 SJ 50033/113-1996 半導(dǎo)體光電子器件.GD3252Y型光電二極管詳細(xì)規(guī)范

7,、 GJB 33/19-2011 半導(dǎo)體光電子器件 GH302-4型光電耦合器詳細(xì)規(guī)范

光電子器件檢測范圍

硅基光電子器件、光電子器件組件,、半導(dǎo)體光電子器件,、納米光電子器件、石墨烯光電子器件,、集成電路光電子器件,、柔性光電子器件、jungong光電子器件等,。

光電子器件檢測項目

外觀質(zhì)量,、規(guī)格尺寸、失效分析、機(jī)械沖擊試驗,、變頻振動試驗,、光纖扭力測試、SEM檢查,、X射線檢查,、X射線照相、內(nèi)部檢查,、內(nèi)部目檢,、剪切強(qiáng)度、可焊性試驗,、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查,、聲學(xué)檢查、外部檢查,、常規(guī)檢測,、第三方檢測、現(xiàn)場檢測等,。（具體以客戶實際情況為準(zhǔn)）

光電子器件檢測流程

1,、聯(lián)系客服、溝通檢測需求,；

2,、根據(jù)實際情況確定樣品遞送流程、上門取樣,、送樣,、郵寄樣品；

3,、對樣品進(jìn)行初步,、獲取樣品的特性以及相關(guān)指標(biāo)；

4,、根據(jù)客戶的需求,、根據(jù)檢測經(jīng)驗及標(biāo)準(zhǔn)方法、定制試驗方案,；

5,、進(jìn)行試驗、得到試驗數(shù)據(jù),、出具測試報告,；

6、完善的售后服務(wù),、可隨時咨詢,；

上海復(fù)達(dá)檢測是法定第三方檢測機(jī)構(gòu)，具有CMA、CNAS等資質(zhì),，光電子器件檢測服務(wù)面向全國,，包含上海、北京,、天津,、沈陽、濟(jì)南,、南京,、蘇州,、杭州,、寧波、合肥,、鄭州,、武漢、長沙,、廣州,、深圳、成都,、西安等地區(qū),。