項目介紹

低溫測試的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏,、操縱控制,，是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫下材料物理化學性能,。標準中對于試驗前處理,、試驗初始檢測、樣品安裝,、中間檢測,、試驗后處理、升溫速度,、溫度柜負載條件,、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件,、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂,、脆化、可動部卡死,、特性改變等現(xiàn)象,。

低溫的影響

1,、使材料發(fā)硬變脆；

2,、潤滑劑粘度增加,，流動能力降低，潤滑作用減??；

3、電子元器件性能發(fā)生變化,；

4,、水冷凝結(jié)冰；

5,、密封件失效,；

6、材料收縮造成機械結(jié)構(gòu)變化,。

應用范圍

低溫測試主要用于科研研究,、醫(yī)遼用品的保存、生物制品,、遠洋制品,、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存,。

方法標準

GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》

IEC :2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》