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發(fā)布時間: | 2023-11-28 13:21 |
最后更新: | 2023-11-28 13:21 |
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近年來,,隨著電子產(chǎn)品的發(fā)展,對于電子元器件的性能要求也越來越高。而低溫沖擊試驗,,作為評估電子元器件在極端低溫環(huán)境下的可靠性的重要手段之一,,在各大實驗室中被廣泛運用,。
那么,,對于電子元器件低溫沖擊試驗測試報告的辦理,我們公司以lingxian的技術(shù)和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度,,為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù),。
一、試驗常見標(biāo)準(zhǔn):1. GB/T 2423.22-2019“電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 第2K章 冷熱沖擊”
2. IEC Ed. 7.0“Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature”
3. MIL-STD-202H(測試方法標(biāo)準(zhǔn)) Method 107G(缺陷沖擊-液壓試驗)
二,、測試要求:1. 溫度范圍:一般低溫沖擊試驗的溫度范圍為-40°C至-80°C,,根據(jù)客戶要求可定制更低的溫度。
2. 沖擊次數(shù):一般情況下,,低溫沖擊試驗要求進(jìn)行多次沖擊,,如100次、200次等,。根據(jù)具體產(chǎn)品的要求和客戶需求,,我們可提供多種沖擊次數(shù)的選擇。
3. 沖擊時間:一般低溫沖擊試驗的沖擊時間為15-30分鐘,,根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)和要求,,沖擊時間會有所不同。
4. 沖擊方式:常見的低溫沖擊試驗方式有導(dǎo)熱方式和浸泡方式,,不同的方式會對元器件產(chǎn)生不同的影響,,需要根據(jù)具體產(chǎn)品和標(biāo)準(zhǔn)來選擇。
三,、試驗過程:1. 樣品準(zhǔn)備:根據(jù)客戶提供的樣品或者需要測試的電子元器件,,進(jìn)行樣品準(zhǔn)備工作,包括樣品的清潔和標(biāo)記等,。
2. 試驗設(shè)備準(zhǔn)備:選擇合適的低溫沖擊試驗設(shè)備,,設(shè)置試驗參數(shù),如溫度范圍、沖擊次數(shù)和沖擊時間等,。
3. 試驗執(zhí)行:將樣品置于低溫沖擊試驗設(shè)備中,,按照設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行沖擊試驗,記錄試驗過程中的溫度變化和樣品的反應(yīng),。
4. 結(jié)果分析:根據(jù)試驗結(jié)果,,評估電子元器件在低溫環(huán)境下的可靠性,并撰寫試驗測試報告,。
四,、測試結(jié)果與報告:測試結(jié)果主要包括樣品在低溫沖擊試驗過程中的溫度變化、樣品表面的裂紋,、變形等情況。根據(jù)測試結(jié)果,,我們會撰寫詳細(xì)的試驗測試報告,,包括試驗?zāi)康摹⒃囼灧椒?、試驗結(jié)果和結(jié)論等內(nèi)容,。
除了以上常見的內(nèi)容外,我們還會從產(chǎn)品的適用環(huán)境,、耐寒能力等細(xì)節(jié)方面進(jìn)行分析,,并給出相應(yīng)的建議和改進(jìn)措施,以幫助客戶更好地提升產(chǎn)品的可靠性,。
,,電子元器件低溫沖擊試驗測試報告的辦理,需要依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求,,經(jīng)過嚴(yán)格的試驗過程和結(jié)果分析,,并最終形成詳細(xì)的報告。我們公司作為lingxian的實驗室,,將竭誠為您提供專業(yè)的服務(wù),,助您了解產(chǎn)品的低溫性能,為產(chǎn)品的開發(fā)和改進(jìn)提供有力支持,。