隨著近十年以來智能手機(jī),、智能電視,、AI技術(shù)的風(fēng)起云涌,,人們對容量更高,、速度更快、能耗更低,、物理尺寸更小的嵌入式和計(jì)算機(jī)存儲器的需求不斷提高,,DDR SDRAM也不斷地響應(yīng)市場的需要和技術(shù)的升級推陳出新。
1,、DDR標(biāo)準(zhǔn)制定者:JEDEC協(xié)會所有的DDR標(biāo)準(zhǔn),、LPDDR標(biāo)準(zhǔn)、GDDR標(biāo)準(zhǔn),,及內(nèi)存模組標(biāo)準(zhǔn)均是由JEDEC下屬的 JC-42 Solid State Memories工作組所開發(fā),。
JEDEC,全稱為“Joint Electron Device Engineering Council”,,固態(tài)技術(shù)協(xié)會,為一個(gè)全球性的組織,。
DDR技術(shù)的發(fā)展:從DDR1到DDR5的演變:電壓更低,,速率翻倍,容量翻倍2,、DDR接口的基本原理? 內(nèi)核的頻率:100MHz~266MHz,,從SDR時(shí)代到DDR,再到ZUI新的DDR5,;? 數(shù)據(jù)速率的提升是通過I/O接口的架構(gòu)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的,,主要有三個(gè)技術(shù):1) 雙邊沿傳輸數(shù)據(jù):這是DDR名稱的來源;2) 預(yù)取技術(shù)(Prefetch): 2bit for DDR, 4bit for DDR2, 8bit for DDR3, 8bit for DDR4, 16bit for DDR5…本質(zhì)上是一個(gè)串并轉(zhuǎn)換技術(shù),;3) SSTL/POD Signaling: 克服在高速傳輸時(shí)的信號完整性的問題,。
芯片內(nèi)部的一般架構(gòu):保證數(shù)據(jù)能夠高速從芯片引腳輸出在上述這樣一種芯片架構(gòu)中,,為了ZUI大程度的降低DRAM芯片的成本,ZUI節(jié)省成本的方法為:? 對于讀操作,,DQS與DQ為邊沿對齊,;? 對于寫操作,DQS與DQ為中心對齊,。
3,、DDR接口信號分類引腳框圖4、信號分類及其拓?fù)溥B接方式不同類的信號,,它的拓?fù)溥B接方式不一樣,。
5、DDR接口舉例說明:DDR3 DIMM Layout6,、DDR接口舉例說明:DDR3 DIMM Layout? 內(nèi)存控制器芯片與DRAM顆粒芯片在同一塊PCB上,;? 內(nèi)存通道的總線寬度根據(jù)所選擇的內(nèi)存控制器芯片的不同而不同;? CPU Core并不是直接和內(nèi)存發(fā)生作用,,而是通過緩存來和內(nèi)存發(fā)生作用,;? Cache Line的大小為64 Byte;也就是說緩存與內(nèi)存相互作用的ZUI小單位為64 Byte,。
7,、DDR測試解決方案? 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采用標(biāo)準(zhǔn)化的DIMM,可以使用多種探測解決方案進(jìn)行探測,。
? 嵌入式設(shè)計(jì)中的通常直接把DRAM芯片焊接在PCB上,,而所有的DDR3顆粒均采用BGA封裝。
JEDEC的規(guī)格定義的測試點(diǎn)為BGA的焊球處,。
? 在PCB layout時(shí),,就通過過孔在背面預(yù)留有測試點(diǎn),這樣可以直接點(diǎn)測完全信號的探測,;也就是DfT(Design for Test),。
? 當(dāng)使用直接探測時(shí),可以得到很好的信號保真度,。
? 但對于PCB正反面都貼有DRAM顆粒,,這種方法無能為力。
DDR測試方案一:直接探測DDR3 DIMM + TDP7700 Probe TipsDDR測試方案二:BGA Interposer8,、突發(fā)識別的方法? 在分析時(shí),,需要自動(dòng)將讀突發(fā)和寫突發(fā)分離開來獨(dú)自進(jìn)行分析? 對于讀寫分離,有若干種方法:1) DQ/DQS phase alignment:基于讀操作和寫操作的DQ/DQS相位對齊關(guān)系的不同,,讀操作為邊沿對齊,,寫操作為中心對齊。
這種ZUI常用,。
2) Visual Trigger:可視觸發(fā),,用戶自定義可視觸發(fā)條件,,靈活度非常高;3)CS, Latency + DQ/DQS phase alignment:當(dāng)有多個(gè)rank時(shí),,需要通過CS信號來區(qū)分是哪一個(gè)rank進(jìn)行讀寫,;4) Logic State + Burst Latency:通過解析命令信號群組(RAS#-CAS#-WE#)來確定讀操作和寫操作。
DDR測試需要提供的資料:DDR測試不僅需要準(zhǔn)備測試樣品,,還需要提供產(chǎn)品的線路圖及l(fā)ayout,。
啟威測實(shí)驗(yàn)室提供DDR2/3/4/5信號完整性測試及一致性驗(yàn)證,更多關(guān)于DDR測試解決方案,,請聯(lián)系啟威測實(shí)驗(yàn)室,。