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產(chǎn)品高加速HALT試驗依據(jù)基礎(chǔ)標準GB/T《電工電子產(chǎn)品加速試驗規(guī)程高加速壽命試驗導則》進行測試,。

試驗應力：高溫步進、低溫步進,、快速溫度變化循環(huán),、六自由度非高斯寬帶隨機振動等測試應力類型。

試驗項目：

常溫性能試驗,；

溫度均勻性測試,；

低溫步進試驗；

高溫步進試驗,；

快速溫度循環(huán)試驗,；

振動步進試驗；

快速溫變循環(huán)與振動步進綜合試驗,。

高加速壽命（HALT）試驗簡介：

高加速試驗一般分為高加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗,，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高,、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設(shè)計缺陷和不足的過程,。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性,。HALT不是一種合格或者不合格的測試,，是一種協(xié)助設(shè)計工程師改善產(chǎn)品可靠性的工具，沒有預先設(shè)定極限,，極限由產(chǎn)品決定,，逐步增加應力，直至失效,，試驗中需要對產(chǎn)品進行監(jiān)測,。HASS（Highly Accelerated Stress Screening）試驗產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后所做的高加速應力篩選,應力低于HALT試驗,。可開展的Halt/Hass試驗,，提供低溫步進應力試驗,、高溫步進應力試驗、振動步進應力試驗,、快速熱循環(huán)試驗和綜合應力試驗，在這些試驗過程中,，往往伴隨著工作應力如產(chǎn)品開/關(guān)機,，電壓位偏，頻率拉偏等,。

HALT用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計有關(guān)的早期失效故障,，也用于提高產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機故障的壯實度；HASS應用于產(chǎn)品制造階段,，幫助減少產(chǎn)品與制造工藝有關(guān)的早期失效率,。產(chǎn)品的HALT試驗總是先于HASS試驗進行，因為HASS試驗剖面圖參數(shù)要根據(jù)HALT的試驗結(jié)果來確定,。

HALT采用對樣品系統(tǒng)地施加步進應力的方法,，讓樣品承受逐步增加的環(huán)境應力（振動、溫度和濕度等）,、附加應力（電源周期通斷,、電壓拉偏和頻率拉偏等）和工作應力來快速激發(fā)產(chǎn)品的設(shè)計缺陷，暴露設(shè)計薄弱環(huán)節(jié),，確定產(chǎn)品的工作極限和破壞極限,，從而在短期內(nèi)為產(chǎn)品改進設(shè)計提供信息。在應力步進施加過程中各量級應力可以大大走出技術(shù)規(guī)范極限,。