HAST高壓蒸煮檢測

HAST(Highly Accelerated Stress Test)高壓蒸煮是一項測試微電子器件的可靠性的方法之一,，通過模擬極端工作環(huán)境下的水分,、溫度、氣壓等因素,，對器件的耐受程度進行評估,，從而提高產品的可靠性,。

測試項目

HAST測試主要關注器件的結構、材料,、制作工藝和生產流程方面,，其測試項目包括：

密封性測試；    濕熱環(huán)境下電絕緣強度以及擊穿電壓試驗,；    鹽霧腐蝕測試,；    表面紋理變化觀察等。 測試條件

HAST測試的環(huán)境條件主要包括：溫度140℃,、相對濕度95%,、氣壓3.5atm，測試時長24-96小時（視不同測試項目而定）,。

國內外測試標準

國際上對于HAST測試的標準主要有JEDEC JESD22-A110和MIL-STD-750C,，國內的標準主要有GB/T2423.12-2013和GJB657A-2009等。

樣品要求

測試樣品一般為器件的部分組件或完整板卡,，需符合相關的生產標準和規(guī)范,。測試樣品需采用差異性較大的相關材質進行對比測試。

測試流程

測試流程如下：

設定測試溫度,、相對濕度,、測試時間；    將測試樣品放入高壓蒸煮測試設備內,，并進行密封,；    測試結束后，取出測試樣品,，進行各項測試指標的測量和檢驗,；    *終生成測試報告,。 測試報告

測試報告將列明每個測試項目所使用的測試設備和測試方法，測試結果以及結論,。如果發(fā)現(xiàn)問題,，則會詳細解釋所發(fā)現(xiàn)的問題，并給出相應的建議,。

如何申請測試

針對需要進行HAST測試的客戶,，需要在專業(yè)的第三方檢測機構（如、UL等）進行申請,。在申請測試前,，客戶需要向檢測機構提供樣品信息及相關資料，以方便檢測機構預估測試費用并計劃測試流程,。

HAST測試可以幫助客戶在產品研發(fā)和生產過程中提前發(fā)現(xiàn)問題并加以解決,，在保證產品質量的同時，也節(jié)約了客戶的時間和成本,。