檢測項目溫度濕度偏置循環(huán)壽命測試,、穩(wěn)態(tài)濕熱偏置壽命試驗,、高加速蒸煮試驗,、高溫存儲壽命試驗,、溫度循環(huán)試驗、加電溫度循環(huán)試驗,、溫度沖擊試驗,、鹽霧試驗、溫度偏置工作壽命試驗,、高加速壽命試驗,、高加速無偏置壽命試驗、振動和掃頻試驗,、可靠性試驗,、老化試驗、半導(dǎo)體封裝測試,、浸漬試驗,、低氣壓試驗、溫度沖擊試驗,、沙塵試驗,，外部火焰試驗、低頻振動試驗,、隨機跌落實驗,、穩(wěn)態(tài)濕熱試驗,、高頻振動試驗，隨機振動試驗,，耐溶劑試驗,，顆粒碰撞噪聲試驗，介質(zhì)耐壓測試,，絕緣電阻測試,，直流電阻測試，電容量測試,，品質(zhì)因數(shù)測試,，接觸電阻測試，旋轉(zhuǎn)壽命試驗,，固定電阻器電流噪聲測試,，強碰撞沖擊，可焊性,，X射線照射,，引出端強度，加速度試驗,，電阻電壓系數(shù)測試等,。相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)GJB360B 電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗

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