【產(chǎn)品名稱】

晶彩科技 – 8吋至12吋 Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動AI光學(xué)檢測機)

【設(shè)備規(guī)格與特色】

配備8"/12" LoadPort,，支持Open Cassette,、FOUP、FOSB等不同晶圓傳送形式,。

具備AI實時缺陷檢測功能，實現(xiàn)即拍即檢即分類,，提升檢測效率,。

支持KLARF文件格式，可進行晶圓分區(qū),、分Die,、以及Defect size & type分析，提供完整清楚的檢測結(jié)果,。

高速自動缺陷拍照,，確保制程檢查中不遺漏微小缺陷。

采用BF+DF光源設(shè)計,，提供優(yōu)越的光學(xué)成像效果,，更能有效區(qū)分不同缺陷類型。

可檢測Minimize缺陷尺寸：0.4微米(μm)，實現(xiàn)高靈敏度檢測,。

支持SECSGEM200/300標(biāo)準(zhǔn),，實現(xiàn)高度自動化的工廠設(shè)備整合。

晶彩科技的8"-12" Wafer Auto AI AOI/OM(晶圓自動AI光學(xué)檢測機),，LoadPort搭載檢測系統(tǒng)展現(xiàn)卓越的功能與性能,，不僅提供靈活多樣的晶圓傳送形式，同時擁有AI實時缺陷檢測功能,，實現(xiàn)即拍即檢即分類,，使檢測過程更為高效。機臺更支持KLARF文件格式的特性使得機臺能夠進行晶圓分區(qū),、分Die,、以及Defect size & type分析，提供完整的檢測報告,，幫助制造商更有效地管理質(zhì)量控制,。

高速自動缺陷拍照功能確保在制程中能夠?qū)崟r偵測并記錄微小缺陷，保持生產(chǎn)質(zhì)量的持續(xù)高水平,。BF+DF光源設(shè)計進一步提升光學(xué)成像效果,，有助于更準(zhǔn)確區(qū)分不同缺陷類型，并可檢測Minimize缺陷尺寸達到0.4微米(μm)確保微小缺陷不被忽略,。

【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】

晶彩科技擁有超過24年的豐富光學(xué)檢量測經(jīng)驗,，深耕AOI領(lǐng)域多年，設(shè)備多年來獲得國內(nèi)外大廠的采用高度信賴,。我們深諳AOI技術(shù)的四大核心領(lǐng)域：光學(xué),、檢測、軟件控制,、機構(gòu),，并致力于以匠人之心打造每一臺AOI檢量測設(shè)備，為客戶提供可靠的設(shè)備與服務(wù),。

同時晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光電科技（上海）有限公司」,，亦為晶彩科技在中國大陸地區(qū),，提供更全面的國際化服務(wù),。

【營業(yè)據(jù)點】

晶彩科技總部位于臺灣地區(qū)新竹竹北，同時在臺中與臺南擁有辦公室,。晶彩科技亦在上海設(shè)有分公司晶隼彩光電科技（上海）有限公司,，專注處理設(shè)備進出口、技術(shù)相關(guān)之其他設(shè)備服務(wù)事宜,。

為提供中國地區(qū)的高效快速的服務(wù),，晶彩科技于上海、咸陽、滁州,、昆山,、重慶、福建,、武漢,、浙江、廣州,、長沙,、深圳等地設(shè)有服務(wù)據(jù)點，以實現(xiàn)全國范圍內(nèi)客戶的快速支持,，打造全方位的AOI產(chǎn)業(yè)布局,。

晶彩科技檢量測設(shè)備一覽

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