一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV,；衰老期失效的Ea大于1.0eV,。

根據(jù)Compaq可靠度工程部（CRE）的測(cè)試規(guī)范，Ea是機(jī)臺(tái)所有零件Ea的平均值。如果新機(jī)種的Ea無(wú)法計(jì)算,，可以將Ea設(shè)為0.67eV,，做常數(shù)處理。

加速因子計(jì)算范例:

例1：Ea=0.50eV,，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k,，Ta=40℃+273=313°k

AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.

例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k,，Ta=40℃+273=313°k

AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1./

4,、MTBF計(jì)算范例:

例1：某機(jī)型為例：30臺(tái)樣品，信心度為0.6,，MTBF目標(biāo)值為240000小時(shí),，用戶使用溫度為35度，測(cè)試溫度為40度,。

假設(shè)在測(cè)試結(jié)束前不失效,，求總的運(yùn)行時(shí)間T及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)D。

解：MTBF=240000h,，AF=1.47,，C=0.6，α=1-C=0.4,，r=0,， X2(α,2r+2)=1.83

240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h

D=T/(30*24)==206.60天

（2）假設(shè)在測(cè)試11天后，有一臺(tái)失效,，不替換失效樣品,，即29臺(tái)接著測(cè)試，求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d,。

解：MTBF=240000h,，AF=1.47，C=0.6,，α=1-C=0.4,，r=1， X2(α,2r+2)=4.04

注意：此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天

240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天

D=d+11=460.31 + 11=471.31天

（3）假設(shè)在測(cè)試11天后,，有一臺(tái)失效，替換失效樣品,，即仍然是30臺(tái)接著測(cè)試,，求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。

a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天

b: 此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天

240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天

D=d+11=444.97 + 11=455.97天

MTBF測(cè)試,，Burn-in測(cè)試,，ALT區(qū)別:

圖片

Burn-in：“老化”測(cè)試，指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下,，使其特性達(dá)到穩(wěn)定的方法,。

ALT：Accelerated life test，加速壽命測(cè)試,，是在超過(guò)使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對(duì)樣品進(jìn)行的壽命試驗(yàn),。