鍍銀開關(guān)觸點(diǎn)檢測(cè)項(xiàng)目

高壓隔離開關(guān)是電力系統(tǒng)中廣泛使用的高壓開關(guān)設(shè)備，其觸頭或?qū)щ姉U的鍍銀層質(zhì)量直接影響到設(shè)備的安全穩(wěn)定運(yùn)行,。鍍銀層的質(zhì)量問題,，如厚度不足,、硬度偏低和附著力不足，可能導(dǎo)致鍍銀層過早剝落、露銅,，進(jìn)而引起導(dǎo)電回路發(fā)熱,，威脅電力系統(tǒng)的安全。因此,，對(duì)高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層進(jìn)行有效檢測(cè)至關(guān)重要。

創(chuàng)新的檢測(cè)技術(shù)

該項(xiàng)目針對(duì)高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層的成分,、硬度和厚度等關(guān)鍵指標(biāo),，創(chuàng)造性地提出了鍍銀層檢測(cè)技術(shù)。該技術(shù)具有操作便捷,、測(cè)試高效,、判據(jù)準(zhǔn)確的特點(diǎn)，并且不受觸頭式樣和大小的限制,，能夠?qū)Ω鞣N裝配完好的觸頭進(jìn)行無拆卸,、無損傷檢測(cè)。

系研究鍍銀層元素成分與厚度的關(guān)系,，系統(tǒng)研究了鍍銀層元素成分含量與厚度之間的函數(shù)關(guān)系,，得到了基于X射線熒光技術(shù)的鍍層厚度

y與銀含量X的函數(shù)方程式，其中鍍銀層厚度范圍為0-50μm,。

性能檢測(cè)判據(jù)

創(chuàng)造性地提出了銅基鍍銀層性能檢測(cè)判據(jù),，具體包括：

• 化學(xué)元素成分判據(jù)：銅和銀兩元素含量之和應(yīng)大于等于96%。

• 鍍銀層厚度判據(jù)：銀元素含量應(yīng)大于等于94.7%,，且每組測(cè)試值的銀元素含量大差值應(yīng)小于等于4%,。

• 鍍層硬度判據(jù)：韋氏硬度大于17.2HW。

高壓隔離開關(guān)觸頭鍍銀層檢測(cè)關(guān)鍵技術(shù)項(xiàng)目的成功實(shí)施,，不僅提高了高壓隔離開關(guān)的可靠性和穩(wěn)定性,，也為電力系統(tǒng)的安全運(yùn)行提供了有力保障。通過創(chuàng)新的檢測(cè)技術(shù)和嚴(yán)格的質(zhì)量控制,，該項(xiàng)目在實(shí)際應(yīng)用中展現(xiàn)了顯著的效果,，為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的制定和技術(shù)進(jìn)步做出了重要貢獻(xiàn)。

深圳華瑞測(cè)金屬材料內(nèi)部主要檢測(cè)項(xiàng)目如下：

1,、機(jī)械性能：主要包括（拉伸試驗(yàn),、高低溫拉伸試驗(yàn)、 壓縮試驗(yàn),、剪切試驗(yàn),、扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)、彎曲試驗(yàn),、沖擊試驗(yàn),、洛氏硬度試驗(yàn) 、布氏硬度試驗(yàn)、維氏硬度試驗(yàn),、壓扁試驗(yàn) ,；

2、化學(xué)成分分析：主要分析金屬材里的各種化學(xué)成分含量（碳, 硅, 錳, 磷, 硫, 鎳, 鉻, 鉬, 銅, 釩, 鈦, 鎢, 鉛, 鈮, 汞, 錫, 鎘, 銻, 鋁, 鎂, 鐵, 鋅, 氮, 氫, 氧 ）,；

3,、金相測(cè)試：主要包括（非金屬夾雜物、低倍組織,、晶粒度,、斷口檢驗(yàn)、鍍層厚度,、硬化層深度,、脫碳層、灰口鑄鐵金相,、球墨鑄鐵金相,、金相切片分析；

4,、鍍層測(cè)試：常用方法為,，鍍層測(cè)厚-庫侖法、鍍層測(cè)厚-金相法,、鍍層測(cè)厚-渦流法,、鍍層測(cè)厚-射線熒光法、鍍層成分分析和表面污點(diǎn)分析,；