中山電鍍產(chǎn)品鹽霧測(cè)試 鍍層厚度測(cè)試

鍍層是為了好看或儲(chǔ)藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料，或者一層稀薄的金屬或?yàn)榉略炷撤N貴重金屬,，在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層,。鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。

一般檢測(cè)方法有：

1,、金相法

2,、庫(kù)侖法

3、X-ray 方法

適用范圍

金相法：

采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面,，以測(cè)量金屬覆蓋層,、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um,，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi),；厚度越大，誤差越小,。

庫(kù)侖法：

適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法,，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度,。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度,，還可以測(cè)量圓柱形和線(xiàn)材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差,。測(cè)量鍍層的種類(lèi)為Au,、Ag、Zn,、Cu,、Ni、dNi,、Cr,。

X-ray 方法：

適用于測(cè)定電鍍及電子線(xiàn)路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au）,，銀（Ag）,，錫（Sn），銅（Cu）,，鎳（Ni）,，鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測(cè)量方法可測(cè)量三層覆蓋層體系,，或測(cè)量三層組分的厚度和成分,。

測(cè)試原理

利用金相顯微鏡原理，對(duì)鍍層厚度進(jìn)行放大,，以便準(zhǔn)確的觀測(cè)及測(cè)量,。

利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏?yáng)極溶解**限定面積的覆蓋層,，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上完全溶解，經(jīng)過(guò)所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度,。因陽(yáng)極溶解的方法不同,，被測(cè)量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同,。用恒定電流密度溶解時(shí),，可由試驗(yàn)開(kāi)始到試驗(yàn)終止的時(shí)間計(jì)算；用非恒定電流密度溶解時(shí),，由累積所耗電量計(jì)算,，累積所耗電量由電量計(jì)累計(jì)顯示。

X射線(xiàn)光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線(xiàn)與基體和覆蓋層的相互作用,。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射,，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知,，則為覆蓋層線(xiàn)性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系,。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,，又給出實(shí)際的密度,，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線(xiàn)性厚度。

樣品要求

由于金相法測(cè)樣品的厚度為局部厚度,，對(duì)于一些厚度不一致的樣品,，需要客戶(hù)指定具體部位。如沒(méi)有特殊要求,，我們將自行取一個(gè)較均勻的部位進(jìn)行測(cè)量,。

目前我們只能測(cè)平面的鍍層厚度，樣品需要至少一個(gè)5 mm2平面,。

其面積至少大于0.05×0.25mm

我公司主要經(jīng)營(yíng)有害化學(xué)物質(zhì)和未知成分分析,、金屬成分分析、稀土成分分析,、礦石成分分析,、塑膠成分分析、認(rèn)證,、檢驗(yàn)鑒定服務(wù)

電鍍層質(zhì)量檢查的內(nèi)容包括鍍層的外觀,、厚度、與基體金屬的結(jié)合力,、延展性,、顯微硬度、脆性,、耐蝕性,、耐磨性,、可焊性等。具體質(zhì)量檢查的內(nèi)容因零件和鍍層而異,，但鍍層的外觀,、厚度、耐蝕性和與基體金屬的結(jié)合力是所有鍍層都必須檢查的內(nèi)容,。電鍍層的質(zhì)量檢查方法和評(píng)判,，各個(gè)國(guó)家有各自制定的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，也有統(tǒng)一的;不同的企業(yè)也制定有相應(yīng)的企業(yè)標(biāo)準(zhǔn),。