現(xiàn)在的高速數(shù)字系統(tǒng)的時(shí)鐘頻率可能高達(dá)數(shù)百兆Hz,，其快斜率瞬變和極高的工作頻率,， 以及很大的電路密集度，必將使得系統(tǒng)表現(xiàn)出與低速設(shè)計(jì)截然不同的行為,，出現(xiàn)了信號完整 性問題,。破壞了信號完整性將直接導(dǎo)致信號失真、定時(shí)錯(cuò)誤,，以及產(chǎn)生不正確數(shù)據(jù),、地址和 控制信號，從而造成系統(tǒng)誤工作甚至導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰,。因此,，信號完整性問題已經(jīng)越來越引起高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)人員的關(guān)注。 如果電路中信號能夠以要求的時(shí)序,、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá) IC,，則該電路具有較好的信號完整性。反之,，當(dāng)信號不能正常響應(yīng)時(shí),， 就出現(xiàn)了信號完整性問題。 SI（Signal Integrity ） 解決的是信號傳輸過程中的質(zhì)量問題,，尤其是在高速領(lǐng)域,，數(shù)字信號的傳輸不能只考慮邏輯上的實(shí)現(xiàn)，物理實(shí)現(xiàn)中數(shù)字器件開關(guān)行為的模擬效果往往成為設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵,。

北京淼森波信息技術(shù)有限公司主要提供高速電路測試服務(wù)和儀器儀表租售業(yè)務(wù),。

高速電路測試服務(wù)項(xiàng)目有：① SI信號完整性測試，主要內(nèi)容是電源上電時(shí)序,、復(fù)位,、時(shí)鐘,、I2C、SPI,、Flash,、DDR,、JTAG接口,、CPLD接口測試、URAT測試,、網(wǎng)口測試,、USB2.0/USB3.0測試、MIPI測試,、HDMI測試,、及板卡上其它芯片接口的信號測試。② PI電源完整性測試,，主要內(nèi)容是電源的電壓值（精度）,、電源噪聲/紋波、電壓上下波形,、測量緩啟動(dòng)電路參數(shù),、電源電流和沖擊電流、電源告警信號,、冗余電源的均流參數(shù),。③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng),、USB2.0,、USB3.0、MIPI,、HDMI,、SATA、Display Port,、PCIE,。