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廣州騰鳴自動(dòng)化控制設(shè)備有限公司，

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花都：花都區(qū)轄新華街道,、新雅街道,、秀全街道、花城街道,、花山鎮(zhèn),、赤坭鎮(zhèn)、炭步鎮(zhèn),、獅嶺鎮(zhèn),、梯面鎮(zhèn)、花東鎮(zhèn),，

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OMRON伺服維修常見故障：無顯示,、缺相、過流,、過壓,、欠壓、過熱,、過載,、接地、參數(shù)錯(cuò)誤,、有顯示無輸出,、模塊損壞、報(bào)錯(cuò)等,；

     在各種單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)中,，芯片存儲(chǔ)器的正常與否直接關(guān)系到該系統(tǒng)的正常工作。為了提高系統(tǒng)的可靠性,，對系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行測試是十分必要的,。通過測試可以有效地發(fā)現(xiàn)并解決因存儲(chǔ)器發(fā)生故障對系統(tǒng)帶來的破壞問題。本文針對性地介紹了幾種常用的單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試方法,，并在其基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法,。

    一、RAM測試方法回顧

    方法1：一種測試系統(tǒng)RAM的方法是分兩步來檢查,，先后向整個(gè)數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH,，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣,，則說明出錯(cuò),。

    方法2：方法1并不能完全檢查出RAM的錯(cuò)誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH-G,。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率,，但是所需要的測試時(shí)間是很大的。MARCH-G算法需要對全地址空間遍歷3次,。設(shè)地址線為”根,，則CPU需對RAM訪問6×2n次。

    方法3：一種通過地址信號移位來完成測試的方法,。在地址信號為全O的基礎(chǔ)上,，每次只使地址線Ai的信號取反一次,，同時(shí)保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持0不變，這樣從低位向高位逐位進(jìn)行;接著在地址信號為全1的基礎(chǔ)上,，每次只使地址線Ai的信號取反一次,，同時(shí)保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持1不變，同樣從低位向高位逐位進(jìn)行,。因此地址信號的移位其實(shí)就是按照2K(K為整數(shù),，大值為地址總線的寬度)非線性尋址，整個(gè)所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過移位產(chǎn)生的,。在地址變化的同時(shí)給相應(yīng)的存儲(chǔ)單元寫入不同的偽隨機(jī)數(shù)據(jù),。在以上的寫單元操作完成后，再倒序地將地址信號移位讀出所寫入的偽隨機(jī)數(shù)據(jù)并進(jìn)行檢測,。設(shè)地址線為n根,，則CPU只對系統(tǒng)RAM中的2n+2個(gè)存儲(chǔ)單元進(jìn)行訪問。

    二,、基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM測試方法

    基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的測試方法是在方法3的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)獲得的,。方法3主要是使用全O和全1兩個(gè)背景數(shù)來移位展開的，與MARCH-G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些,，但使用了較少的地址單元,。這里我們把方法3中的背景數(shù)稱為“種子”。以地址線為8根的RAM為例,，種子分別取00000000和11111111兩個(gè)數(shù),，取00000000、11111111,、0000llll和llll0000四個(gè)數(shù),，以及取00000000、11111111,、00001111,、11110000、00110011,、1100llOO,、01010101和10101010八個(gè)數(shù)來移位展開測試，所達(dá)到的故障覆蓋率是不一樣的,。種子數(shù)為2的改進(jìn)方法要低于MARCH-G算法的故障覆蓋率,，種子數(shù)為4的改進(jìn)方法與MARCH-G算法相當(dāng)，種子數(shù)為8的改進(jìn)方法能夠超過MARCH-G算法的效果,。整體上基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法是可以代替MARCH-G算法的,，但是種子數(shù)目不同所需要的尋址次數(shù)也是不同的。設(shè)地址線為n根,，種子數(shù)為2時(shí)需要訪問RAM共計(jì)4”+4次,，種子數(shù)為4時(shí)需要訪問RAM共計(jì)8n+8次,，種子數(shù)為8時(shí)需要訪問RAM共計(jì)16n+16次，而MARCH-G算法需要訪問RAM共計(jì)6×2n次,?？梢姡诜N子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH-G算法的測試時(shí)間開銷大大降低,。同時(shí)，故障覆蓋率會(huì)隨著種子數(shù)目的增加而提高,，當(dāng)然不同種子數(shù)時(shí)所需要的測試時(shí)間開銷也不同,。在實(shí)際測試應(yīng)用中要根據(jù)測試時(shí)間和測試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果,。