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素尺寸,、響應(yīng)時(shí)間等 探測(cè)器平板探測(cè)器 ***普遍使用 分為兩種：非晶硅、非晶硒 平板探測(cè)器非晶硅 目前世界上主要廠家都用這種技術(shù),，包括 GE,、西門(mén)子、飛利浦,、柯達(dá)等,。國(guó)內(nèi)萬(wàn)東也引進(jìn)了這種技術(shù)。 間接能量轉(zhuǎn)換過(guò)程,，所謂間接DR,。 兩步數(shù)字轉(zhuǎn)換過(guò)程，X-光粒子先變成可見(jiàn)光然后用光電管探測(cè),。 平板探測(cè)器非晶硅 成像核磁維修,、維修核磁,開(kāi)機(jī)測(cè)試還是不能出圖，檢查發(fā)現(xiàn)GATE等在射頻發(fā)射時(shí)沒(méi)有閃爍,，證明門(mén)控信號(hào)沒(méi)有輸出,。門(mén)控信號(hào)由譜儀輸出，檢查譜儀至知識(shí)燈之間的線路正常。懷疑譜儀故障,，將譜儀拆開(kāi)后,，檢查SW-239門(mén)控電子轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)損壞。該開(kāi)關(guān)是在射頻發(fā)射和信號(hào)接收之

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間的轉(zhuǎn)換,。更換損壞器件后,，機(jī)器恢復(fù)正常。作者：司馬雨辰現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行X射線時(shí),，應(yīng)設(shè)置安全線,，確定“控制區(qū)”及“管理區(qū)”，并設(shè)明顯警告標(biāo)志,。材料層為摻***的碘化銫閃爍發(fā)光晶體排列 ,；陣列層由光電二極管和TFT組成。每個(gè)二極管對(duì)應(yīng)一個(gè)像素,。 目前像素尺寸有143*143μm,，16*160μm，200*200μm,，分辨率3.5LP/mm,，灰階4096，響應(yīng)時(shí)間3-5s,。 平板探測(cè)器晶體非晶硒 或碘化